Analizador de tamaño de partículas LS 13 320 XR
Para grandes mejoras que le ayudan a detectar pequeñas diferencias.
El LS 13 320 XR ofrece los mejores datos de distribución de tamaño de partículas de su clase mediante tecnología PIDS avanzada,* la cual permite mediciones de alta resolución y un intervalo dinámico ampliado. Al igual que sucede con el LS 13 320, el analizador XR proporciona resultados rápidos y precisos y le ayuda a agilizar los flujos de trabajo para optimizar la eficiencia. Algunas grandes mejoras le ayudan a detectar de manera fiable pequeñas diferencias que pueden tener un gran impacto en sus datos de análisis de partículas.
- Intervalo de medición directa de 10 nm a 3500 µm
- Destaca automáticamente los resultados de aceptación/fallo para un control de calidad más rápido
- Software mejorado que simplifica la creación de métodos para mediciones estandarizadas
- Nuevas normas de control para verificar de forma adecuada el rendimiento del instrumento o módulo
Documentación y notas de aplicación
Resources + Tools
Características del LS 13 320 XR
Detecta pequeñas diferencias
- Intervalo de medición ampliado: 10 nm – 3500 µm
- La difracción láser plus es una avanzada tecnología de dispersión diferencial de la intensidad de polarización (PIDS) que permite la medición de alta resolución y la notificación de datos reales a partir de 10 nm
- Proporciona una detección precisa y fiable de varios tamaños de partícula en una única muestra
Software fácil de usar
- El software ADAPT dispone de una verificación automática de aceptación/fallo
- Los métodos preconfigurados aportan resultados con 3 clics o menos
- Simplifica la operación del analizador tanto para usuarios expertos como para principiantes
- Vista superpuesta de los datos históricos con 1 clic
- Diagnósticos de usuario intuitivos le mantienen informado durante la obtención de muestras
- Creación simplificada de métodos para mediciones estandarizadas
El software ADAPT está habilitado para 21 CFR Parte 11
- Sistema de seguridad personalizable para satisfacer diversas necesidades
- Elija entre 4 niveles de seguridad
- La configuración de alta seguridad cumple con 21 CFR Parte 11
Tecnología PIDS* para la detección directa de partículas de 10 nm
- 3 longitudes de onda de luz (450, 600 y 900 nm) irradian las muestras con luz polarizada vertical y horizontal
- El analizador mide la luz dispersada de las muestras a lo largo de un intervalo de ángulos
- Las diferencias en la luz radiada de forma horizontal y vertical para cada longitud de onda proporcionan datos de alta resolución de distribución de tamaños de partículas